可靠性結(jié)果
在熱循環(huán)測試和濕熱測試中，研究了用二種背板箔片(二種不同的絕緣涂層)和EVA密封材料制造的背接觸組件，二者均依據(jù)IEC61215 ed. 2測試協(xié)議。熱循環(huán)表明沒有明顯的衰減，熱循環(huán)300次后最大的功率衰減為3%。紅外(IR)圖像表明，在300次熱循環(huán)后沒有熱斑出現(xiàn)。

還在濕熱環(huán)境中測試了使用同一材料的MWT被接觸組件，如圖3所示，在85℃和85%相對濕度下2000小時(shí)。此時(shí)，濕熱測試1000小時(shí)后就發(fā)生明顯的衰減，對于二種絕緣涂層，2000小時(shí)濕熱測試后就已觀察到失效。與我們過去的研究結(jié)果比較，可以得出如下結(jié)論：在濕熱測試中會(huì)發(fā)生明顯的失效，失效的準(zhǔn)確時(shí)間不是一成不變的，似乎與材料批次變化有關(guān)。

提高該組件的可靠性需要了解失效機(jī)理。濕熱測試后打開失效組件，發(fā)現(xiàn)絕緣涂層從Cu箔片上剝離(圖3b)，導(dǎo)致互連周圍局部應(yīng)力進(jìn)而失效。

絕緣涂層剝離的原因似乎與涂層、EVA密封材料和濕度之間的相互作用有關(guān)。為了證明這一點(diǎn)，另外制造并測試了二組組件。用不同的密封材料(熱塑性的)制造有相同絕緣涂層的組件以及用EVA和熱塑性密封材料制造采用導(dǎo)電背板無絕緣涂層的組件。所有組件在濕熱測試2000小時(shí)中都顯示出極佳的穩(wěn)定性；在2000小時(shí)時(shí)觀察到的最大相對功率衰減為1.9%(圖4)。

電測試表明其絕緣性能良好，即使用沒有絕緣涂層的箔片制造的組件也是如此?，F(xiàn)在，ECN已得到了MWT背接觸組件的IEC 61730認(rèn)證，說明這一概念本質(zhì)上是安全的。