松下公司日前宣布，其生產的HIT太陽能電池模塊已由德國弗勞恩霍夫硅光伏中心（Fraunhofer Center for Silicon Photovoltaics）確認不存在電位誘發衰減（potential induced degradation，PID）現象。
電位誘發衰減現象是指，在接地框架與太陽能電池單元之間存在外加電壓的狀態下，再加上高溫高濕等外部因素，在這種情況下發生的輸出下降現象。2012年6月，弗勞恩霍夫硅光伏中心公布了13家公司太陽能電池模塊相關測試結果，由此太陽能電池行業加緊采取相應對策。不過，上述試驗并未包括松下的HIT太陽能電池模塊。

松下認為，普通結晶硅型太陽能電池產生電位誘發衰減現象的直接原因，是太陽能電池單元表面的絕緣層帶電。而HIT太陽能電池單元表面采用的是透明導電膜，不采用絕緣層。因此弗勞恩霍夫硅光伏中心此次利用正負兩種電壓進行了試驗。

具體而言，是使用10塊HIT太陽能電池模塊，在溫度為50℃、相對濕度為50％、正負電壓為1000伏的條件下