剛接觸QE測(cè)試，測(cè)試中發(fā)現(xiàn)了一些問(wèn)題，不知道是什么原因，希望高手、大俠們能給解答一下：

1. QE測(cè)試對(duì)樣品有什么樣的要求？

   我測(cè)試的時(shí)候發(fā)現(xiàn)，測(cè)試小組件的QE時(shí)，噪音很大，特別是在短波區(qū)，出來(lái)的圖形根本沒(méi)法看。而把電池上的Al電極做的很小的時(shí)候，就不會(huì)有這個(gè)問(wèn)題了。是不是小組件中兩邊電池對(duì)所測(cè)試的電池影響很大啊？
2. 加偏壓對(duì)測(cè)試的影響？
   測(cè)試中發(fā)現(xiàn)，加偏壓后曲線的噪音變大，雙節(jié)及三節(jié)電池尤為嚴(yán)重，短波區(qū)太高，把后面的曲線比成直線了。而單節(jié)電池的影響則小很多。不加偏壓的時(shí)候曲線都很正常。請(qǐng)教這種問(wèn)題是測(cè)試設(shè)備的原因還是電池的原因？應(yīng)該怎么解決？
   希望高手給與解答，并希望大家來(lái)一起討論QE測(cè)試中各種問(wèn)題，以求共同學(xué)習(xí)!!